デバイスの微細構造解析技術者

◆業務内容
FIB(集束イオンビーム）-SEM装置を用いた電子デバイスの構造解析をご担当いただきます。主要な業務は以下の通りです。
・多様な電子顕微鏡観察に適した、様々な方法での微小領域加工
・分析目的のヒヤリングや測定結果の説明を通した顧客サポート
・最新技術である多イオン種プラズマFIBを用いた新規応用分野の探索と社外へのPR

http://www.toray-research.co.jp/kinougenri/
└こちらに東レリサーチセンターの分析技術と原理が掲載されておりますので、是非御覧ください。

◆配属先について
東レ（株）籍、（株）東レリサーチセンター出向となります。
配属先となる東レリサーチセンター・形態科学研究部第1研究室のTEM技術は高度な前処理から多様な観察・分析を駆使して、産業界のみならず学会でも高い認知度を得ています。当社では最先端のTEM設備と経験豊富な技術スタッフで高難度の受託分析評価を実施しつつ、大学や国立研究所との共同研究なども積極的に実施し、新しい知見を学会発表したり、評価方法を開発する取り組みも実施しています。

◆魅力
・創業以来、基礎素材メーカーとして、新分野・新素材の開拓に励み、創業時の『繊維事業』に加えて、『機能化製品事業（フィルム、ケミカル、樹脂、さらには電子情報材料）』、『炭素繊維複合材料』、『ライフサイエンス事業（医薬・医療）』『環境・エンジニアリング事業（水処理・環境と）』いった様々な分野において多くの先端材料、高付加価値製品を創出しています。
・性別によらない処遇制度の確立、育児休職制度のいち早い導入など、日本企業の先陣を切って働きやすい制度整備を進めてきました。コアレスフレックス、リモートワーク他、仕事と家庭の両立支援についての制度（産前産後休暇・育児休職・産後パパ育休・介護休職・再就業希望社員登録制度・新幹線（特急通勤）制度・配偶者海外転勤同行休職制度など）も充実。

変更の範囲：会社の定める業務

＜応募資格/応募条件＞
◆応募要件
・電子顕微鏡を用いた材料分析の経験があること
・FIB装置の使用経験があること
◆歓迎要件
・分光手法を用いた電子状態などの構造解析の実施経験

＜予定年収＞
500万円～800万円

＜賃金形態＞
月給制
補足事項なし

＜賃金内訳＞
月額（基本給）：270,000円～360,000円

＜月給＞
270,000円～360,000円

＜昇給有無＞
有

＜残業手当＞
有

＜給与補足＞
※経験、能力、前職給与等を考慮の上決定します。
■昇給：年1回（4月）
■賞与：年2回（6月、12月）

賃金はあくまでも目安の金額であり、選考を通じて上下する可能性があります。
月給(月額)は固定手当を含めた表記です。